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硬體配置/功能

項目 說明
機型 VT-X750 VT-X750-XL
類型 V3-H V3-C V3
檢驗物件 BGA/CSP、插入式元件、SOP、QFP、電晶體、R/C晶片、
底側端子元件、QFN、功率器件、POP、壓接式CN等。
檢驗項目 空洞、開放、虛焊、焊料體積、移位、異物、橋接、焊角、
TH焊料填充、焊球等。(可根據用途選擇) 
成像
系統
方法 使用平行CT進行3D切片成像
解析度 6、8、10、15、20、25、30 μm/像素
((可在檢測程式中選擇)
3、6、8、10、15、20、25、30 μm/像素
(可在檢測程式中選擇)
10、15、20、25、30 μm/像素
(可在檢測程式中選擇)
X光源 微焦點封閉射線管
X光偵測器 平板偵測器
PCBA 尺寸 50 x 50 ~ 610 x 515 mm (2 x 2至24 x 20吋),
厚度:0.4 ~ 5.0 mm (3 μm解析度為0.4 ~ 3.0 mm)
100 x 100 ~ 1200 x 660 mm,
厚度:0.4 ~ 15.0 mm
重量 不到4.0公斤,(若有選配)不到8.0公斤 不到15公斤
元件間隙 *最大 頂部:40 mm,(若有選配) 90 mm 頂部:40 mm,底部:50 mm
翹曲 小於2.0 mm (3 μm解析度小於1.0 mm) 小於3.0 mm
機身 占地面積 1,550 (寬) x 1,925 (深) x 1,645 (高) mm 2,180 (寬) x 2,510 (深) x 1,735 (高) mm
重量 約3,100公斤 約5,350公斤
輸送帶
高度
900 ±20 mm
電源供應 單相,200至240 VAC,50/60 Hz
額定功率 2.4kVA 2.58kVA
X光洩漏 小於0.5 μSv/h
空氣供應 0.4至0.6 Mpa
安全標準 CE, SEMI, NFPA, FDA CE, FDA